Fischerscope菲希爾X熒光射線儀器

菲希爾X射線測(cè)厚儀Fischerscope X-RAY典型的應(yīng)用領(lǐng)域有：

>測(cè)量大型工件的鍍層，如：機(jī)械零件和外殼

>在電鍍過程中進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)測(cè)量

>對(duì)合金材料進(jìn)行移動(dòng)實(shí)時(shí)檢測(cè)

菲希爾X射線測(cè)厚儀正如所有的FISCHERSCOPE X-RAY儀器一樣，本款儀器有著確性以及長期的穩(wěn)定性，這樣就減少了校準(zhǔn)儀器所需的時(shí)間和精力。

菲希爾X射線測(cè)厚儀XAN500采用硅漂移探測(cè)器能夠達(dá)到高的分析精度及探測(cè)靈敏度。FISCHER基本參數(shù)法，可以在沒有校驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)片校正的情況下分析固、液態(tài)樣品的成分及測(cè)量樣品的鍍層厚度。

菲希爾X射線測(cè)厚儀使用XAN500型手持式儀器可以對(duì)大型工件以及臺(tái)式儀器難以測(cè)量的位置進(jìn)行便捷快速的測(cè)量。儀器可以安全放置到工件上，無論是鍍層測(cè)厚或者材料分析，都可以保證其測(cè)量結(jié)果的再現(xiàn)性。同時(shí)，儀器可選配便攜式智能箱，使其成為小型的臺(tái)式測(cè)量設(shè)備，以便檢測(cè)小型樣品。